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来源:稀导 浏览人数:214 次更新时间:2021.02.22
温升测试 测试条件 1、在室温27℃无空气流动环境下,恒流恒压充放电。 2、4V30A恒流恒压下充放电,记录表面最高温度; 判定标准 环境温度27.5C,试验样品表面温度<环温+20℃。 裸机数据
测试条件 |
1、在室温27℃无空气流动环境下,恒流恒压充放电。 2、4V30A恒流恒压下充放电,记录表面最高温度; |
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判定标准 |
环境温度27.5°C,试验样品表面温度<环温+20℃。 |
裸机数据 |
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正面热源点:采样电阻以及MOS管位置表面 |
裸机30分钟正面mos温度:55.7 采样电阻温度: |
裸机30分钟背面温度:55.3 |
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调整优化方案 |
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我司方案材料:X18*3+X24:(方案尺寸为:50*68mm) |
裸机20分钟正面温度:44.7 |
裸机20分钟背面温度:51.4 |
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结论 |
方案材料与裸机温升对比下:正面优化了11度,背面优化了3.9度,温升达客户标准条件,方案达标。 |
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特别说明: 我司案例信息数据,未经授权不得转载。